SEM - EDX Analizi
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), bir numunenin yüzeyini odaklanmış bir elektron demetiyle tarayarak görüntüleyen bir mikroskop türüdür. Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDX) ile birleştiğinde, sadece görsel değil, aynı zamanda noktasal kimyasal analiz yapmamıza olanak sağlar.
Avantajları
- Çok yüksek çözünürlüklü görüntüler (1nm'ye kadar).
- Tahribatsız analiz imkanı sunar.
- Elementel haritalama ile homojenlik kontrolü yapılır.
Dezavantajları
- Numunenin iletken olması gerekir (veya kaplanmalıdır).
- Vakum ortamı gereklidir.
Neyi Gösterir?
Taşın içindeki metal pullarının dağılımını, kondrül sınırlarını ve mikroskobik çatlaklardaki kirlenmeleri gösterir. Kimyasal olarak ise demir, nikel, silisyum ve magnezyum oranlarını hassas şekilde verir.
X-Işını Kırınımı (XRD)
XRD, bir kristal yapının atomik ve moleküler yapısını belirlemek için kullanılan bir tekniktir. Göktaşlarında bulunan mineral fazlarını (Olivin, Piroksen, Kamasit vb.) kesin olarak tanımlamak için "Altın Standart" kabul edilir.
Neden Gerekli?
- Mineral fazlarını %100 doğrulukla ayırır.
- Kristalinite derecesini ölçer.
Analiz Notu
Genellikle numunenin toz haline getirilmesini gerektirir (Toz XRD), bu nedenle değerli ana kütleden küçük bir parça feda edilmelidir.
XRF Analizi
X-Işını Floresans (XRF), malzemenin elementel bileşimini belirlemek için kullanılan bir yöntemdir. Özellikle büyük örneklerin genel kimyasal yapısını hızlıca anlamak için kullanılır.
Hızlı Tespit
Taşın demir-nikel oranını saniyeler içinde verir.
Geniş Tarama
Eser miktardaki nadir toprak elementlerini bile yakalayabilir.
Mikroskobik Arşiv
