TEKNİK ANALİZLER

Laboratuvarımızda kullanılan ileri teknoloji spektroskopik ve mikroskobik yöntemler, numunelerin kimyasal ve yapısal karakterizasyonunu mikron düzeyinde gerçekleştirir.

XRF Analizi (X-Ray Fluorescence)

X-Işını Floresan Spektroskopisi (XRF), numunenin elementel bileşimini (Mg, Al, Si, Fe, Ni vb.) belirlemek için kullanılan tahribatsız bir analiz yöntemidir.

  • Hızlı Tarama: Saniyeler içinde elementel veri.
  • Nikel Tespiti: Meteorit tanımlamasında kritik Ni oranı.
  • Tahribatsız: Numuneye zarar vermeden analiz.

XRF Spektrum Örneği

SEM Yüzey Görüntüsü

SEM Analizi (Scanning Electron Microscopy)

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), numune yüzeyini yüksek enerjili elektron demeti ile tarayarak çok yüksek çözünürlüklü görüntüler elde eder.

  • Yüksek Büyütme: 100.000x ve üzeri büyütme.
  • Füzyon Kabuğu: Erime yapılarının detaylı analizi.
  • Mineral Fazları: Kamasit ve Taenit dağılımı.

Kondrül ve Petrografik Analiz

Numuneden alınan 30 mikron kalınlığındaki kesitlerin, polarize ışık mikroskobu altında incelenmesi işlemidir. Sınıflandırma için en temel yöntemdir.

  • Kondrül Yapısı: Küresel silikat yapılarının incelenmesi.
  • Şok Evresi: Çarpışma deformasyon izleri (S1-S6).
  • Bozulma: Dış etkenlere maruz kalma derecesi (W0-W6).

Polarize Mikroskop Görüntüsü

Analiz Paketlerini İncele